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Thermally Oxidized Yttrium and Scandium Gate Dielectrics on Germanium with High Interfacial and Film Qualities

研究成果: 会議への寄与タイプ › 学会誌 › 査読

本文言語英語
ページ33-34
ページ数2
DOI
出版ステータス出版済み - 9月 29 2020
イベント2020 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2020) - All-Virtual, All-Virtual, 日本
継続期間: 9月 27 2020 → 9月 30 2020

会議

会議2020 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2020)
国/地域日本
CityAll-Virtual
Period9/27/20 → 9/30/20

引用スタイル