Optimization of test accesses with a combined BIST and external test scheme

M. Sugihara, H. Yasuura

研究成果: 書籍/レポート タイプへの寄稿会議への寄与

2 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Optimization of test accesses with a combined BIST and external test scheme」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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