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Optical characterization of the "E2" deep level in GaN

  • P. Hacke
  • , P. Ramvall
  • , S. Tanaka
  • , Y. Aoyagi
  • , A. Kuramata
  • , K. Horino
  • , H. Munekata

研究成果: ジャーナルへの寄稿学術誌査読

抄録

The correspondence between the E2 level (∼Ec-0.55 eV) in n-type GaN undergoing thermoionization and photoionizution was established. The optical cross section in the vicinity of the threshold for photoionization of this level was measured by means of capacitance transient spectroscopy. Analysis using the formulation of Chantre yielded the optical activation energy, Eo=0.85 eV, and the Franck-Condon parameter, dFC=0.30 eV at 90 K.

本文言語英語
ページ(範囲)543-545
ページ数3
ジャーナルApplied Physics Letters
74
4
DOI
出版ステータス出版済み - 1月 25 1999
外部発表はい

!!!All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • 物理学および天文学(その他)

フィンガープリント

「Optical characterization of the "E2" deep level in GaN」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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