Malfunction suppression of semiconductor circuit breaker in high voltage DC power supply system

Seiya Abe, Sihun Yang, Mariko Ogawa, Masahito Shoyama, Tamotsu Ninomiya, Akira Matsumoto, Akiyoshi Fukui, Mikio Yamasaki

研究成果: 書籍/レポート タイプへの寄稿会議への寄与

抄録

In high voltage DC power supply system (HVDC) system, the fast response breaker is required. Semiconductor circuit breaker is paid attention as one of the key technology in HVDC. However, in some condition, the semiconductor circuit is malfunctioned. When malfunction occurs, unexpected large current is flown to the other normal line. In this paper, the malfunction suppression of semiconductor circuit breaker is described. It demonstrated by using MATLAB/Simulink Moreover, the demonstrated results are confirmed by experimentally.

本文言語英語
ホスト出版物のタイトルTENCON 2010 - 2010 IEEE Region 10 Conference
ページ1278-1283
ページ数6
DOI
出版ステータス出版済み - 2010
イベント2010 IEEE Region 10 Conference, TENCON 2010 - Fukuoka, 日本
継続期間: 11月 21 201011月 24 2010

出版物シリーズ

名前IEEE Region 10 Annual International Conference, Proceedings/TENCON

その他

その他2010 IEEE Region 10 Conference, TENCON 2010
国/地域日本
CityFukuoka
Period11/21/1011/24/10

!!!All Science Journal Classification (ASJC) codes

  • コンピュータ サイエンスの応用
  • 電子工学および電気工学

フィンガープリント

「Malfunction suppression of semiconductor circuit breaker in high voltage DC power supply system」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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