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Formation of Defect-Free Ge Island on Insulator by Ni-Imprint Induced Si Micro-Seeding Rapid Melting
Takashi Sakane
, Kaoru Toko
, Takanori Tanaka
,
Taizoh Sadoh
, Masanobu Miyao
電子デバイス工学
研究成果
:
ジャーナルへの寄稿
›
学術誌
›
査読
概要
フィンガープリント
フィンガープリント
「Formation of Defect-Free Ge Island on Insulator by Ni-Imprint Induced Si Micro-Seeding Rapid Melting」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
並べ替え順
重み付け
アルファベット順
Physics
Atolls
100%
Insulators
100%
Region
66%
Defects
66%
Melting Point
33%
Growth
33%
Transmission Electron Microscopy
33%
Carrier Mobility
33%
Engineering
Defects
66%
Measurement
33%
Large Area
33%
Carrier Mobility
33%
Tensile Strain
33%
Seed-Crystals
33%
Material Science
Defect
66%
Crystalline Material
33%
Carrier Mobility
33%
Tensile Strain
33%
Liquid Phase Epitaxy
33%