Field emission from W tips sharpened by field-assisted nitrogen and oxygen etching

Jo Onoda, Faridur Rahman, Seigi Mizuno

    研究成果: ジャーナルへの寄稿学術誌査読

    11 被引用数 (Scopus)

    抄録

    Field emission properties were studied for tips sharpened using field-assisted nitrogen and oxygen etching. Sharp single crystal tungsten <111>-oriented tips were fabricated and evaluated by Fowler-Nordheim plots and field-ion microscopy observations. The results demonstrated emissions at lower bias voltages due to the sharpening of the tip apex using the etching. The field emission properties and tip shapes after nitrogen etching were compared with those obtained after oxygen etching.

    本文言語英語
    ページ(範囲)152-156
    ページ数5
    ジャーナルe-Journal of Surface Science and Nanotechnology
    6
    DOI
    出版ステータス出版済み - 6月 7 2008

    !!!All Science Journal Classification (ASJC) codes

    • バイオテクノロジー
    • バイオエンジニアリング
    • 凝縮系物理学
    • 材料力学
    • 表面および界面
    • 表面、皮膜および薄膜

    フィンガープリント

    「Field emission from W tips sharpened by field-assisted nitrogen and oxygen etching」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    引用スタイル