抄録
Epitaxial 3C–SiC films have been deposited on Si(111) and Si(001) substrates via laser CVD with deposition rate of 12.32 and 15.56 μm/h, respectively. The activation energy of 3C–SiC on Si(111) and Si(001) was 80 and 160 kJ/mol, and the root mean square (RMS) roughness (w) as a function of the film thickness (h) follows power laws of w~h0.31 and w~h0.06, respectively. The growth mechanisms of epitaxial 3C–SiC films on Si(111) and Si(001) was investigated based on the structural analysis and roughness evolution.
| 本文言語 | 英語 |
|---|---|
| ページ(範囲) | 3850-3856 |
| ページ数 | 7 |
| ジャーナル | Journal of the American Ceramic Society |
| 巻 | 101 |
| 号 | 9 |
| DOI | |
| 出版ステータス | 出版済み - 9月 2018 |
!!!All Science Journal Classification (ASJC) codes
- セラミックおよび複合材料
- 材料化学
フィンガープリント
「Epitaxial growth of 3C–SiC on Si(111) and (001) by laser CVD」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。引用スタイル
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