A Warpage Prediction Model for Trench Field-Plate Power MOSFET in 300mm-Diameter Process
Hiroaki Kato, Bozhou Cai, Jiuyang Yuan, Shin Ichi Nishizawa, Wataru Saito
研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 学術誌 › 査読
Hiroaki Kato, Bozhou Cai, Jiuyang Yuan, Shin Ichi Nishizawa, Wataru Saito
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