年別の研究成果
年別の研究成果
フィンガープリント
Wataru Saitoが活動している研究トピックを掘り下げます。このトピックラベルは、この研究者の研究成果に基づきます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
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過去5年の共同研究と上位研究分野
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Adjustable Current Limiting Function with a Monolithically Integrated SiC Circuit Breaker Device
Takamori, T., Wada, K., Boettcher, N., Erlbacher, T., Saito, W. & Nishizawa, S. I., 2023, (印刷中) In: IEEE Transactions on Industry Applications. p. 1-9 9 p.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 学術誌 › 査読
Open Access1 被引用数 (Scopus) -
A simple sensor device for power cycle degradation sensing
Tsukamoto, T., Nishizawa, S. I. & Saito, W., 8月 2023, In: Microelectronics Reliability. 147, 115068.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 学術誌 › 査読
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Automatic total performance design of low-voltage power MOSFETs using zoomed response surface method
Saito, W., 4月 1 2023, In: Japanese journal of applied physics. 62, SC, SC0803.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 学術誌 › 査読
Open Access -
Degradation and Recovery of GaN HEMTs in Overvoltage Hard Switching Near Breakdown Voltage
Kozak, J. P., Song, Q., Zhang, R., Ma, Y., Liu, J., Li, Q., Saito, W. & Zhang, Y., 1月 1 2023, In: IEEE Transactions on Power Electronics. 38, 1, p. 435-446 12 p.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 学術誌 › 査読
13 被引用数 (Scopus) -
Enhancement of turn-off gate voltage waveform change by digital gate control for bond wire lift-off detection in IGBT module
Mamee, T., Lou, Z., Hata, K., Takamiya, M., Nishizawa, S. I. & Saito, W., 8月 2023, In: Microelectronics Reliability. 147, 115067.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 学術誌 › 査読