Boumediene, D., Pingault, A., Tytgat, M., W. Baek, Y., Kim, D. W., Lee, S. C., Min, B. G., Park, S. W., Deguchi, Y.,
Kawagoe, K., Miura, Y., Mori, R., Sekiya, I.,
Suehara, T.,
Yoshioka, T., Caponetto, L., Combaret, C., Garillot, G., Grenier, G., Ianigro, J. C.,
& 52 othersKurca, T. Q., Laktineh, I., Liu, B., Li, B., Lumb, N., Mathez, H., Mirabito, L., Steen, A., Calvo Alamillo, E., Carrillo, C., Fouz, M. C., Garcia Cabrera, H., Marin, J., Navarrete, J., Puerta Pelayo, J., Verdugo, A., Corriveau, F., Emberger, L., Graf, C., De Silva, L. M. S., Simon, F., Winter, C., Bonis, J., Breton, D., Cornebise, P., Gallas, A., Jeglot, J., Irles, A., Maalmi, J., Pöschl, R., Thiebault, A., Richard, F., Zerwas, D., Cvach, J., Janata, M., Kovalcuk, M., Kvasnicka, J., Polak, I., Smolik, J., Vrba, V., Zalesak, J., Zuklin, J., Duan, Y. Y., Li, S., Guo, J., Hu, J. F., Lagarde, F., Shen, Q. P., Wang, X., Wu, W. H., Yang, H. J. & Zhu, Y. F.,
7月 1 2022,
In: Journal of Instrumentation. 17,
7, P07017.
研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 学術誌 › 査読