服部 励治

研究成果

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年別の研究成果

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検索結果

• 2003

  Contact resistance in Schottky contact gated-four-probe a-Si thin-film transistor

  Hattori, R. & Kanicki, J., 8月 1 2003, In: Japanese Journal of Applied Physics. 42, 8 A, p. L907-L909

  研究成果: ジャーナルへの寄稿 › レター › 査読

  • Thin-Film Transistor 100%
  • Schottky Barrier 75%
  • Contact Resistance 75%
  • Probe 50%
  • Electrode 25%
  13 被引用数 (Scopus)