年別の研究成果
年別の研究成果
フィンガープリント
Masanari Kondoが活動している研究トピックを掘り下げます。このトピックラベルは、この研究者の研究成果に基づきます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
- 1 類似のプロファイル
過去5年の共同研究と上位研究分野
国/地域レベルにおける最近の外部共同研究。点をクリックして詳細を開くか、または
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An Initial Analysis of Repair and Side-effect Prediction for Neural Networks
Ishimoto, Y., Matsui, K., Kondo, M., Ubayashi, N. & Kamei, Y., 2023, Proceedings - 2023 IEEE/ACM 2nd International Conference on AI Engineering - Software Engineering for AI, CAIN 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 80-85 6 p. (Proceedings - 2023 IEEE/ACM 2nd International Conference on AI Engineering - Software Engineering for AI, CAIN 2023).研究成果: 書籍/レポート タイプへの寄稿 › 会議への寄与
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Commit-Based Class-Level Defect Prediction for Python Projects
Mon, K. Y., Kondo, M., Choi, E. & Mizuno, O., 2月 2023, In: IEICE Transactions on Information and Systems. E106D, 2, p. 157-165 9 p.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 学術誌 › 査読
Open Access -
PAFL: Probabilistic Automaton-based Fault Localization for Recurrent Neural Networks
Ishimoto, Y., Kondo, M., Ubayashi, N. & Kamei, Y., 3月 2023, In: Information and Software Technology. 155, 107117.研究成果: ジャーナルへの寄稿 › 学術誌 › 査読
Open Access2 被引用数 (Scopus) -
Towards Better Online Communication for Future Software Development in Industry
Kondo, M., Saito, S., Iimura, Y., Choi, E., Mizuno, O., Kamei, Y. & Ubayashi, N., 2023, Proceedings - 2023 IEEE 47th Annual Computers, Software, and Applications Conference, COMPSAC 2023. Shahriar, H., Teranishi, Y., Cuzzocrea, A., Sharmin, M., Towey, D., Majumder, AKM. J. A., Kashiwazaki, H., Yang, J-J., Takemoto, M., Sakib, N., Banno, R. & Ahamed, S. I. (eds.). IEEE Computer Society, p. 1619-1624 6 p. (Proceedings - International Computer Software and Applications Conference; vol. 2023-June).研究成果: 書籍/レポート タイプへの寄稿 › 会議への寄与
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Towards Privacy Preserving Cross Project Defect Prediction with Federated Learning
Yamamoto, H., Wang, D., Rajbahadur, G. K., Kondo, M., Kamei, Y. & Ubayashi, N., 2023, Proceedings - 2023 IEEE International Conference on Software Analysis, Evolution and Reengineering, SANER 2023. Zhang, T., Xia, X. & Novielli, N. (eds.). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 485-496 12 p. (Proceedings - 2023 IEEE International Conference on Software Analysis, Evolution and Reengineering, SANER 2023).研究成果: 書籍/レポート タイプへの寄稿 › 会議への寄与