Hongye Gao - 研究成果 - 九州大学 Pure ポータルサイト

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2011
Defect evaluation by photoluminescence for uniaxially strained Si-on-insulator
Wang, D., Yamamoto, K., Gao, H., Yang, H. & Nakashima, H., 2011, China Semiconductor Technology International Conference 2011, CSTIC 2011. 1 ed. p. 1117-1122 6 p. (ECS Transactions; vol. 34, no. 1).
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