Energy Engineering Sciences

96 学術誌
24 学会誌
17 会議への寄与
3 会議記事
その他
- 2 総説
- 1 コメント/討論

1 件

フィルター

2020
Erratum: Border trap evaluation for SiO₂/GeO₂/Ge gate stacks using deep-level transient spectroscopy (J. Appl. Phys. (2018) 124 (205303) DOI: 10.1063/1.505529)
Wen, W. C., Yamamoto, K., Wang, D. & Nakashima, H., 4月 30 2020, In: Journal of Applied Physics. 127, 16, 169901.
研究成果: ジャーナルへの寄稿 › コメント/討論 › 査読

Open Access
2 被引用数 (Scopus)